Quattro-環境掃描場發射電鏡
Quattro SEM為具有環境真空功能的極靈活、多功能分辨率掃描電鏡,可以將成像和分析全面性能與環境模式(ESEM)相結合,使得樣品研究得以在自然狀態下進行。
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     Quattro SEM為具有環境真空功能的極靈活、多功能分辨率掃描電鏡,可以將成像和分析全面性能與環境模式(ESEM)相結合,使得樣品研究得以在自然狀態下進行。

     Quattro的場發射電子槍(FEG)確保了優異的分辨率,通過不同的探測器選項,可以調節不同襯度信息,包括定向背散射、STEM和陰極熒光信息。來自多個多個探測器和探測器區分的圖像可以同步采集和顯示,使得單次掃描即可獲得樣品信息,從而降低電子束敏感樣品的束曝光并實現真正額動態試驗。Quattro的三種真空模式使得系統有靈活性,可以容納廣泛的樣品類型,無論樣品導電、絕緣、潮濕或是在高溫條件下,均可獲得可靠的分析結果。Quattro硬件有用戶向導支持,可以指導操作者,還可以直接進行交換,輕松縮短結果獲取時間。

     金屬及合金、斷口、焊點、拋光斷面、磁性及超導材料

     陶瓷、復合材料、塑料

     薄膜/涂層

     地質樣品斷面、礦物

     軟材料:聚合物、藥物、濾膜、凝膠、生物組織、植物材料

     顆粒、多孔材料、纖維

     水合/脫水/濕潤/接觸角分析

     結晶/相變

     氧化/催化

     材料生成

     拉伸(伴隨加熱或冷卻)

產品參數

     發射源:高穩定型肖特基場發射電子槍

     分辨率:

放大倍率:6 ~ 2,500,000×
加速電壓范圍:200 V ~ 30 kV
著陸電壓:20 eV~30 keV,電子束減速可選
探針電流范圍:1 pA ~ 200 nA,連續可調

X-Ray工作距離:10mm,EDS檢出角35°
樣品室:從左至右為340mm寬的大存儲空間,樣品室可拓展接口數量12個,含能譜儀接口3個(其中2個處于180°對角位置)


樣品臺和樣品:

探測器系統:

同步檢測多達四種信號,包括

樣品室高真空二次電子探測器ETD
低真空二次電子探測器LVD
氣體SED(GSED,用于環境掃描模式)
樣品室內IR-CCD紅外相機(觀察樣品臺高度)
樣品導航彩色光學相機Nav-Cam™
珀爾帖臺集成式STEM,用于觀察濕薄樣品- WetSTEM™


控制系統:
操作系統:64位GUI(Windows 7)、鍵盤、光學鼠標
圖像顯示:24寸LCD顯示器,WUXGA 1920×1200
定制化的圖像用戶界面,可同時 ji活多達四個視圖
導航蒙太奇
軟件支持Undo和Redo功能

 

在自然狀態下對材料進行預案為研究,具有環境真空模式(ESEM)的高分辨率場發射掃描電鏡;

可程度縮短樣品制備時間:低真空和環境真空技術可針對不導電和/或含水樣品直接成像和分析,樣品表面無荷電累積;

在各種操作模式下分析導電和不導電樣品,同步獲取二次電子像和背散射電子像;

分析性能好,樣品倉可同時安裝3三個EDS探測器,其中2個EDS端口分開180°、WDS和共勉EDS/EBSD;

針對不導電樣品的分析性能:憑借“壓差真空系統”實現低真空模式下的精確EDS和EBSD分析;

靈活、精確的優中心樣品臺,105°傾斜角度范圍,可全 方位觀察樣品;

軟件直觀、簡便易用,并配置用戶向導及Undo(撤銷)功能,操作步驟減少,分析更快速;

全新創新選項,包括可伸縮RGB陰極熒光(CL)探測器、1100℃高真空熱臺和AutoScript;

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