檢測服務項目
PROJECT
場發射型透射電子顯微鏡
型號: talos
廠家: FEI
附件:超級能譜、STEM、原位加熱桿
加速電壓:20-200kV
分 辨 率:0.15nm>
陰極熒光光譜(cathodoluminescence spectroscopy)簡稱CL譜,是指利用電子束激發半導體,將價帶電子激發到導帶并在價帶留下空穴,而后由于導帶能量高不穩定,被激發電子又重新躍遷回價帶與空穴復合,并釋放出能量E≤Eg(能隙)的特征熒光譜。 >
SEM-CL
X射線光電子能譜
型號: K-ALPHA
廠家: THERMO
附件: 氬離子槍
光斑尺寸:30-400微米
分析模式:可選面積能譜分析,深度分析
例:玻璃表面二氧化鈦涂層O元素不同離子價態比例>
顆粒物分析軟件,針對各種灰度與基體不同的顆粒物進行分析及統計,顆粒物尺度可至納米級別。 >
SEM-顆粒物分析軟件
SEM-礦物分析軟件
自動礦物分類,可得到礦物組成,礦物顆粒及礦物單體顆粒的礦物組成,樣品的元素組成,礦物顆粒及礦物單體顆粒的元素組成,礦物元素的分布,礦物顆粒及礦物單體顆粒的分布,礦物顆粒及礦物單體顆粒尺寸、形態、比重信息,礦物及劑礦物元素回收率及品味估算,礦物生存關系,礦物礦相表面積比,礦物的連生關系,礦物的解離度等信息。 >
要進行EBIC測試的樣品必須是半導體材料且含有內電場,用于分離電子空穴對 >
SEM-EBIC
復制成功
微信號:13126536208
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