型號： Xradia 510Versa

廠家： ZEISS

空間分辨率：0.7微米

最大樣品尺寸：300mm

CT技術在表征泥頁巖三維儲層方面有著巨大潛力，尤其是Nano-CT實現了納米級孔隙三維立體觀測，其分辨率可達到50~70nm，若結合圖像處理技術可以對泥頁巖儲層連通性各向異性和孔隙度等進行定量評價。

泥頁巖三維CT測量數據